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Scan100太陽能電池檢測又稱太陽能電池QE/IPCE量子效率測試儀
Solar Cell Scan100
太陽能電池（光伏材料）光譜響應測試、量子效率QE（Quantum Efficiency）測試、光電轉(zhuǎn)換效率IPCE （Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency） 測試等。廣義來說，就是測量光伏材料在不同波長光照條件下的光生電流、光導等。
| Scan100太陽能電池QE/IPCE量子效率測試儀的測試原理 用強度可調(diào)的偏置光照射太陽能電池，模擬其不同的工作狀態(tài)，同時測量太陽能電池在不同波長的單色光照射下產(chǎn)生的短路電流,從而得到太陽能電池的 光譜響應與量子效率。 |
| Solar Cell Scan100系統(tǒng)組成 ■ 系統(tǒng)包括兩個150Ｗ氙燈，分別做為探測光源和偏置光源（選配件）。 ■ 采用300mm焦距的三光柵光譜儀做為分光系統(tǒng),保證良好的波長準確度和重復性，消除多級光譜的影響。 ■ *的測試光路，可同時實現(xiàn)響應度與鏡面反射率的測試．對于漫反射樣品的反射率測試，則采用積分球方式來實現(xiàn)，確保了測試的準確性．探測光光斑大小從3mm至10mm可調(diào)，以適合不同尺寸的樣品測試。 ■ 樣品臺采用高精度二維平移機構(gòu)，配有恒溫（或變溫）及真空吸附裝置，變溫范圍可達到5～40度。 ■ 系統(tǒng)可工作于斬波模式與連續(xù)模式，斬波模式采用鎖相放大器來實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集，連續(xù)模式采用高精度直流放大器來實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集。 ■ 采用二維高精度電控位移臺可對電池樣品進行Mapping掃描， ■ 專業(yè)軟件，可實現(xiàn)一鍵自動完成響應度、反射率、QE及IPCE的測試。并可針對不同應用，自行設計測試流程。 |  |
| ◆ *的垂直光路設計 *的垂直光路設計，被測樣品平面放置,不僅確保樣品的穩(wěn)定擺放，以保證測試的穩(wěn)定性，而且更適合染料敏化電池的測試。 ◆ JSC模擬計算功能 ◆ 時間穩(wěn)定度測試 ◆ 具有真空吸附及恒溫保持功能的樣品臺（選配件） ◆ 測試光斑大小可調(diào)，適用不同尺寸樣品的測試 |
| ◆ 多結(jié)以及多層膜電池的測試 通過改變偏置光光強,來飽和各結(jié)太陽能電池，分析待測結(jié)太陽能電池量子效率。 | ◆ 反射率測量 系統(tǒng)提供鏡面反射與漫反射測試選件，提供您完整的反射率測試分析手段。 |
| ◆ 開放式偏置光路 偏置光路上預留光學元件的安裝位置，您可自由改變偏置光的條件，可用于對太陽能電池缺陷做先期的分析。 ◆ 標準樣品臺 適用于樣品尺寸相對固定的太陽能電池片的量測?？缮墳樽儨鼗蚝銣貥悠放_。 ◆ 變溫樣品臺 在不同的溫度下測量太陽能電池電流的輸出，對太陽能電池在實際工作環(huán)境下是否存在缺陷做先期的分析。 ◆ 大面積太陽能電池片（ 大156x156mm）的掃描檢測,二維自動平移系統(tǒng)可實現(xiàn)對電池樣品的各個位置做測量分析（選配件） 1.量子效率均勻性分析 2.反射率均勻性分析 | |
| ◆ 斬波與連續(xù)兩種測試模式，可實現(xiàn)常規(guī)光電池以及慢響應光電池的光譜響應測試 Solar Cell Scan 100 提供斬波模式QE/IPCE測量，可實現(xiàn)對多種太陽電池的測試（DSSC, Organic, Amorphous silicon, Monocrystalline Silicon, Microcrystalline Silicon, Polycrystalline Silicon, CdTe, CIGS, GaAs），也提供連續(xù)模式配合暗室測量光電轉(zhuǎn)換較慢的太陽能電池材料QE測量，如染料敏化與光化學太陽能電池材料量子效率測量。 |
Scan100的主要技術(shù)指標
| 項 目 | 指標和說明 |
| 150W氙燈 | 光學穩(wěn)定度≦0.8%，可工作在斬波模式（適合常規(guī)單晶/多晶/非晶硅、CdTe CIGS GaAs 等太陽能電池）與連續(xù)模式（適合慢響應染料敏化電池，有機太陽能電池） |
| 測試光斑尺寸 | 3mm~10mm |
| 三光柵DSP掃描單色儀 | |
| 波長范圍 | 300nm～2000nm |
| 波長準確度 | a） ±0.3nm（1200g/mm,300nm） b） ±0.6nm（600g/mm,500nm） c） ±0.8nm（300g/mm,1250nm） |
| 掃描間隔 | 小可至0.1nm |
| 輸出波長帶寬 | <5 nm |
| 多級光譜濾除裝置 | 根據(jù)波長自動切換，消除多級光譜的影響 |
| 光調(diào)制頻率 | 4 - 400 Hz |
| 標準樣品臺尺寸 | 164mmx164mm |
| 標準硅探測器 | 含校正報告 |
| 偏置光源 | 光強可調(diào)， 高可大于1個太陽常數(shù)（需選配） |
| 樣品 大尺寸 | 156mm×156mm |
| 數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度 | a） 斬波模式：2nV；b） 連續(xù)模式：100nA |
| 測量重復精度 | 對太陽光譜曲線積分重復性在±1%以內(nèi) |
| 測試周期 | 單次掃描<1min，完整測試<5min （步長5nm） |
| 反射率測量 | 鏡面反射 300-1100nm（需選配）；漫反射 300-1600nm（需選配） |
| 溫度控制 | 恒溫控制：25±1℃（需選配）；變溫控制：5~40℃（需選配） |
| 3D Mapping | 156mm×156mm，100um分辨率 |
| 儀器尺寸 | 主機：842mm×770mm×575mm；控制柜：800mm×600mm×1300mm |
| Solar Cell Scan 100選購件列表 | |
| 型 號 | 說 明 |
| QE-A1 偏置光源附件 | 150W 高穩(wěn)定氙燈，平行光路含濾光片支架，光穩(wěn)定度≦0.8% |
| QE-C1 鏡面反射率測試附件 | 含Si探測器，波長范圍300-1100nm |
| QE-C2 漫反射率測試附件 | 含漫反射測量積分球，Si & InGaAs探測器，波長范圍300-1600nm |
| QE-D1 二維電動樣品臺 | XY 二維電移臺及控制驅(qū)動 |
| QE-F1 真空吸附樣品臺 | 156mm x156mm |
| QE-F2 恒溫樣品臺 | 25 ℃±1℃，156mm x156mm |
| QE-F3 變溫樣品臺 | 5-40 ℃，臺面尺寸30 mm x30mm |
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